联系人及邮箱：刘凯 kailiu2020@henu.edu.cn
放置地点：15号楼C座105
设备简介：型号：TTT-02-Kerr Microscope-F;国别/生产厂家：新加坡/TuoTuo Technology;仪器组成：磁光克尔显微镜、电脑、低温恒温器、分子泵组、隔震台、磁光克尔程序包等。
仪器主要用途：
1.测量具有磁各向异性材料（薄膜或二维材料）微区的磁滞回线；
2.实时观测材料在不同温度和磁场下的磁畴图像；
3.结合外接源表以及直流和高频探针，除可实现磁性驱动磁畴翻转外，还可实现直流电流驱动、脉冲电流驱动和电压驱动等激励源作用下的磁畴演变以及磁滞回线测量。
主要规格及技术指标：
1.卡尔蔡司正置式偏光显微镜，行程大于50 mm，物镜放大倍率5X、20X、100X，400万像素，30帧/秒；
2.低温恒温器可实现温度范围5K-500 K，温度控制精度±0.1 K；
3.隔震台：气动悬浮，保证光路稳定。
简介